二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統(tǒng)光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號，被檢測到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態(tài)進行詳細檢查。SEM的主要優(yōu)點之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。

二手sem+edx電鏡蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有出色的探測效率，能夠輕松實現(xiàn)亞納米分辨成像，適用于多種材料的高分辨成像與分析。其優(yōu)異的低電壓成像能力與表面細節(jié)靈敏度，讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。為生命科學研究實驗室、工業(yè)實驗室、成像測試平臺、高?；蜓芯繖C構(gòu)提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微技術(shù)與方案。

[ 產(chǎn)品特點 ]

  出色的檢測效率

優(yōu)異的低電壓分辨率和表面靈敏度

靈活的探測手段獲取高分辨的圖像

無漏磁鏡筒，輕松應(yīng)對磁性材料表征

豐富的擴展性

[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ]

 材料科學，如納米材料表征

工業(yè)應(yīng)用，如失效分析，性能分析

生命科學，如大體積細胞高通量成像

電池領(lǐng)域，如老化分析、電池材

電子半導(dǎo)體領(lǐng)域，如半導(dǎo)體器件失效研究與分析

刑偵、法醫(yī)學

考古學、文物保護與修復(fù)