美國博曼（Bowman）K系列 XRF 高精度涂層測量系統(tǒng)

K 系列是客戶測量各種樣品的理想之選，在高度不超過9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm）×12英寸（304mm）可測量區(qū)域。自動多準(zhǔn)直器允許選擇光斑尺寸，以適應(yīng)各種特征尺寸；可變焦攝像頭允許在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范圍內(nèi)進行測量。

配置

K 系列的標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個4位（4、8、12和24mil）多重準(zhǔn)直器；

可選尺寸為2x2 mil 至60mil?？勺兘咕啾阌谠诎枷輩^(qū)域進行測量。

同服電機驅(qū)動的可編程平臺可通過可選的 xyz程序進行零件測量。

程序可使用模式匹配和自動對焦來確保精確測量。

與所有 Bowman XRF 系統(tǒng)一樣，K系列配備了標(biāo)準(zhǔn)的硅漂移探測器（SDD）和長壽命微聚焦×射線管。