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北京中科博達(dá)儀器科技有限公司
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電工電子產(chǎn)品接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
2023-5-15 閱讀(2305)
電工電子產(chǎn)品接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
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1.確定含有二氧化硫的大氣對(duì)貴金屬制的或有貴金屬鍍層的接觸點(diǎn)的接觸特性的影響。但不包括銀和某些銀合金。
2.檢查包式的或卷式的連接件的緊密性和有效性。在所有試驗(yàn)中，主要根據(jù)在含有二氧化硫大氣中引起的接觸電阻的變化值進(jìn)行性能評(píng)定。
3 試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱及期附件所用材料應(yīng)不與二氧化硫起反應(yīng)或不吸收二氧化硫和不影響試驗(yàn)氣體的腐蝕效應(yīng)。氣體進(jìn)出試驗(yàn)箱的管道要足夠大，以使氣體經(jīng)過(guò)箱體的總流量能使箱內(nèi)氣體每小時(shí)更換3至5次。從箱內(nèi)排出的氣體不允許進(jìn)入實(shí)驗(yàn)室。試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生試驗(yàn)氣體的方法須滿足下述規(guī)定:
a.試驗(yàn)箱內(nèi)放置試驗(yàn)樣品空間的條件應(yīng)在規(guī)定的范圍內(nèi)。 b，試驗(yàn)樣品不應(yīng)直接經(jīng)受進(jìn)入氣流的沖擊。
c試驗(yàn)氣體對(duì)試驗(yàn)樣品的平均相對(duì)速度應(yīng)為20~60米/小時(shí)約6~17毫米/秒)或使用攪拌裝骨使氣體和試驗(yàn)樣品之間有近似的相對(duì)速度。
d試驗(yàn)箱的內(nèi)壁不允許出現(xiàn)凝露。試驗(yàn)設(shè)備的示意圖見(jiàn)附錄。4試驗(yàn)氣體
4.試驗(yàn)箱內(nèi)氣體的組成必須滿足下述條件:二氧化硫(注):25±5ppm(體積比)
二氧化碳:不大于4500ppm(體積比)
溫度;25+2℃
相對(duì)濕度:75+5%
注:以SO表示的硫的氧化物的總量，其中少量非SO的氧化硫(例如SO)的濃度，不得超過(guò)氧化硫總量的1%。
5.試驗(yàn)氣體的獲得
用能保證獲得均勻混合物的方法，在一定量的空氣中混合入二氧化硫、二氧化碳、水汽得到試驗(yàn)用氣體(要得到二氧化硫均勻分布的混合氣體，可能需要分步進(jìn)行混合)。
1.在試驗(yàn)中的試驗(yàn)樣品不能進(jìn)行清潔(有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定或有關(guān)方面另有協(xié)議要求者除外)。
2.有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可以要求在試驗(yàn)前和試驗(yàn)后的電阻測(cè)量應(yīng)與機(jī)械試驗(yàn)(例如沖擊或振動(dòng)試驗(yàn))結(jié)合進(jìn)行。
3.試驗(yàn)樣品應(yīng)根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行測(cè)量，機(jī)械檢查和機(jī)械耐久性試驗(yàn)。
4.接觸電阻應(yīng)該用低開(kāi)路電壓法，以免破壞接觸表面上的形成膜。
6條件試驗(yàn)
6.1條件試驗(yàn)開(kāi)始前，必須測(cè)量二氧化硫的濃度、溫度和相對(duì)濕度，當(dāng)試驗(yàn)條件到達(dá)穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始試驗(yàn)。在試驗(yàn)過(guò)程中，必須定期檢查以確保這些條件符合試驗(yàn)要求。
6.2放置試驗(yàn)樣品時(shí)，應(yīng)注意不要互相接觸和擋住試驗(yàn)氣體。
6.3應(yīng)采取適當(dāng)措施保證接觸點(diǎn)在暴露試驗(yàn)期間不受干擾。
6.4試驗(yàn)樣品暴露時(shí)接觸點(diǎn)應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定斷開(kāi)或閉合。
6.5試驗(yàn)樣品是否負(fù)載或運(yùn)行由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
6.6試驗(yàn)樣品根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間優(yōu)先選用410或21天連續(xù)暴露試驗(yàn)。
