背景介紹

在現(xiàn)代工業(yè)的連續(xù)生產(chǎn)中法蘭受介質(zhì)腐蝕、沖刷、溫度、壓力、震動(dòng)等因素的影響，會(huì)不可避免的出現(xiàn)泄露問(wèn)題。由于密封面加工尺寸的誤差，密封元件的老化以及安裝緊固不當(dāng)?shù)仍驑O易造成法蘭的滲漏。如果不能及時(shí)治理法蘭滲漏問(wèn)題，在介質(zhì)的沖刷下會(huì)使?jié)B漏迅速擴(kuò)大，造成物料的損失，生產(chǎn)環(huán)境的破壞，導(dǎo)致企業(yè)停機(jī)停產(chǎn)，造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。如果是有毒有害、易燃易爆的介質(zhì)泄漏，還有可能造成人員中毒、火災(zāi)爆炸等重大事故。

本次課題嘗試為某變電站管道壓力值降低，疑似因法蘭對(duì)接面腐蝕導(dǎo)致氣密性降低。通過(guò)盲檢進(jìn)行初步判斷。日祥技術(shù)攜帶OMNISCAN-X3為用戶檢測(cè)。

1.檢測(cè)對(duì)象描述

檢測(cè)對(duì)象：鋁制法蘭

厚度：40mm

情況描述：管道壓力值降低，疑似因法蘭對(duì)接面腐蝕導(dǎo)致氣密性降低。通過(guò)盲檢進(jìn)行初步判斷。

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2. 檢測(cè)設(shè)備配置

主機(jī)：主機(jī) OMNISCAN-X3 16：64PR

探頭：相控陣探頭 10L32-A11，SA11-N55S 楔塊

掃查設(shè)置：橫波，扇掃，角度斜入射，入射角為12°-65°，一次激發(fā)16晶片

3.檢測(cè)結(jié)果

3.1 使用相控陣探頭 10L32-A11檢測(cè)40mm 厚度驗(yàn)證發(fā)現(xiàn)有明顯腐蝕位置結(jié)果如 下：

3.2使用相控陣探頭 10L32-A11檢測(cè)40mm 厚度法蘭 驗(yàn)證發(fā)現(xiàn)無(wú)腐蝕位置結(jié)

果如下：

經(jīng)過(guò)多次對(duì)無(wú)缺陷位置進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，均無(wú)明顯回波信號(hào)出現(xiàn)。

4.結(jié)論

經(jīng)多次反復(fù)實(shí)驗(yàn)得出結(jié)論：

使用 Omniscan X3 16:64PR 設(shè)備檢測(cè)此類工件的腐蝕缺陷使用 10L32-A11探頭進(jìn)行檢測(cè)，缺陷信號(hào)良好，檢測(cè)位置準(zhǔn)確，能明顯分辨有無(wú)缺陷。如有標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比參考，可進(jìn)一步優(yōu)化檢測(cè)效果。

OmniScan X3全聚焦相控陣

OmniScan X3全聚焦相控陣

OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手：焊縫檢測(cè)、管線和管道的檢測(cè)、耐腐蝕合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷（HTHA）的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。

主要特性：

• 顯示超微細(xì)節(jié)的TFM（全聚焦方式圖像 ，全聚焦方式（TFM）包絡(luò)處理功能，高達(dá)1024X1024的網(wǎng)絡(luò)分辨率。

• 探測(cè)到早期的高溫氫致（HTHA）缺陷

• 提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域可以最多顯示4個(gè)不同角度的TFM模式圖像，便于解讀缺陷和定量缺陷

• 提升效率和創(chuàng)新特性，單獨(dú)的衍射時(shí)差（TOFD）菜單，800%的高波福范圍，減少了重 新掃描的需要

• 與現(xiàn)有文件和設(shè)置相兼容

• 迅速地投入到檢測(cè)工作中

• 具備應(yīng)對(duì)嚴(yán)峻挑戰(zhàn)的能力，最大25GB的 文件容量

• 符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，防雨防塵