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產品簡介
UV-A紫外輻照計（單通道）采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
詳細介紹
UV-A紫外輻照計(單通道)采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A紫外輻照計(單通道)?特點:
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數(shù)字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-A紫外輻照計(單通道)技術指標:
| 探頭（二選其一）： | UV-420探頭 | UV-365探頭 |
| 波長范圍及峰值波長: | λ：(375～475)nm；λP＝420nm | λ：(320～400)nm；λP＝365nm |
| 紫外帶外區(qū)雜光： | UV420：小于0.02% | UV365：小于0.02% |
| 輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標準） | |
| 角度響應特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 線性誤差： | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開機30min后） | |
| 響應時間： | 1秒 | |
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 | |