XRF-2000膜厚儀

原產(chǎn)地：韓國

功能及應(yīng)用：測(cè)量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等

可測(cè)單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。

XRF-2000膜厚儀精度

表層：±5%以內(nèi)

第二層：±8%以內(nèi)

第三層：±15%以內(nèi)

XRF-2000膜厚儀測(cè)試范圍  

Au 0.03-4um

Ag  0.03-25um

Ni 0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi:0.05-20um

SnCu:0.05-20um

Micro Pioneer

XRF-2000膜厚儀配置

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）

測(cè)量樣品高度3cm  10cm  15cm  20cm 四種規(guī)格可選

測(cè)量樣品長寬均為55cm  

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

Micro Pioneer XRF-2000膜厚儀

測(cè)量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等