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X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。X射線熒光光譜(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品，產生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進行檢測。

EDX 3200S-PLUS設備采用了能量色散X射線熒光光譜（EDXRF)技術實現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測，設備采用了的探測器和激發(fā)源等硬件配置。用大功率的X射線照射樣品，樣品可以被激發(fā)出各種元素能量的特征熒光X射線，不同元素的特征能量各不相同，通過半導體探測器分別測量不同元素特征能量的X射線的強度，就可以進行定性分析。而樣品受激發(fā)后發(fā)射的某一元素的特征X射線強度與元素在樣品中的含量有關，因此通過建立元素與含量的數(shù)學模型后，就能對元素進行定量分析。

 

EDX 3200S-PLUS可用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重金元素鎘（Cd）、鉛（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速無損檢測，其檢出限可達0.03ppm。其2-3分鐘能進行快速篩查，測試小于15分鐘對樣品的測量，射線防護優(yōu)于國標《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標準GBZ115-2002》，有第三方測試機構出具儀器安全性（輻射計量）測試報告。