報告簡介：

如何在不破壞樣品的前提下，對大尺寸石墨烯等二維材料的電學(xué)性質(zhì)進行準(zhǔn)確快速的測量，是在提升樣品質(zhì)量并推進其實際應(yīng)用中，亟待解決的重要問題。常規(guī)的四探針電阻測量法、原子力顯微鏡、共聚焦拉曼等表征方法存在測量尺寸小、效率低、對樣品有損傷等缺點而無法勝任。

在本報告中，我們將結(jié)合來自《nature》《science》等期刊的新文獻，介紹種技術(shù)，它采用非接觸式方式，快速準(zhǔn)確且高效的實現(xiàn)大尺寸石墨烯等二維材料的無損測量，得到電導(dǎo)率、電阻率、載流子和均勻性等分布信息。此方法同樣適用于其他二維材料、半導(dǎo)體薄膜、光伏薄膜的電學(xué)性質(zhì)測量。該方法已經(jīng)成功應(yīng)用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企業(yè)，并且其對于石墨及其他二維材料電學(xué)測量方法已經(jīng)成為IEC（國際電工委員會，是性的標(biāo)準(zhǔn)化門機構(gòu)） TS 62607-6-10:2021(E)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范^[1]

 1. https://webstore.iec.ch/publication/28888

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報告時間：

2021年12月02日 14:00

主講人：

弓志宏，物理學(xué)碩士，2016年畢業(yè)于北京理工大學(xué)。主要研究方向為激光光譜學(xué)與技術(shù)、光與低維半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)相互作用以及時間分辨發(fā)光動力學(xué)等。現(xiàn)擔(dān)任Quantum Design中國子公司產(chǎn)品經(jīng)理，多年來直負責(zé)低維材料光學(xué)，電學(xué)物性測量設(shè)備的應(yīng)用開發(fā)，技術(shù)支持和市場拓展。

技術(shù)線上論壇：

https://qd-china.com/zh/n/2004111065734

相關(guān)產(chǎn)品：

1.石墨烯/二維材料電學(xué)性質(zhì)非接觸快速測量系統(tǒng)-ONYX

http://www.pcpggtz.cn/product/detail/33762952.html