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KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)

參考價	￥50000-￥999999/臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司
品牌KLA-Tencor
型號
所在地香港特別行政區(qū)
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2025/3/9 22:57:56
訪問次數(shù) 23

產(chǎn)品標(biāo)簽

KLA Candela® 6300光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)光學(xué)表面缺陷

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FIRSTNANO成立于2012年，一家由三位材料學(xué)博士共同創(chuàng)辦的德國公司?；?/span> “Science is international”的想法，“全球協(xié)同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學(xué)家到科學(xué)家，科學(xué)開創(chuàng)美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導(dǎo)體技術(shù)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等科研領(lǐng)域，始終秉承“前沿、專業(yè)、科學(xué)”的宗旨，將前沿技術(shù)引進(jìn)到協(xié)同實驗室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程；材料科學(xué)的檢測、分析；生命科學(xué)成像，腦科學(xué)與行為認(rèn)知等相關(guān)領(lǐng)域。作為全球科技前沿的儀器供應(yīng)商，FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應(yīng)體系、以及嚴(yán)格的質(zhì)量管控系統(tǒng)，能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。

公司服務(wù)的客戶領(lǐng)域廣泛，其中包括消費電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導(dǎo)體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機(jī)構(gòu)。

在成長的過程中，我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港（中華區(qū)）公司成立以來，我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)。

我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM，一起為夢想揚帆起航！

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KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)基于激光的硬盤驅(qū)動器基板檢測系統(tǒng)，可測量整個磁盤的表面形貌，微觀粗糙度和波紋度，并檢查晶圓表面是否存在缺陷。自動化模型Candela 6340配有片盒對片盒傳輸系統(tǒng)。

KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)利用多通道光學(xué)設(shè)計，結(jié)合激光穩(wěn)定性管理技術(shù)，以及強(qiáng)大的光學(xué)表面測量功能，對邊緣roll-off、紋理/拋光均勻性、高密度互連的表征以及劃痕和微粒進(jìn)行檢測。檢測和量測系統(tǒng)的光學(xué)掃描技術(shù)可在徑向和切線方向上對整個磁盤的形貌進(jìn)行量測，并允許制造商使用單一的工具來測量整個空間光譜。KLA Candela® 6300系列增加了激光功率、降低了本底噪聲以及新的光學(xué)設(shè)計消除了對用于缺陷檢測的濺射玻璃基板的需求，從而可以識別<0.1&angst;的粗糙度變化。

KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)

功能

提供業(yè)界最寬的空間帶寬和優(yōu)秀的本底噪聲
測量切向、徑向粗糙度和波紋度
可重復(fù)量測金屬和玻璃介質(zhì)并與AFM測量結(jié)果相關(guān)聯(lián)
對不同尺寸的磁盤進(jìn)行快速的全晶圓檢測
對輕微劃痕、沾污和微粒檢測具有高靈敏度
創(chuàng)新型光學(xué)表面分析(OSA)技術(shù)
可提供手動(6310) 或全自動(6340)

KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)

應(yīng)用案例

粗糙度和波紋度分析
缺陷檢測
劃痕和隆起檢查
微粒和沾污檢測
微觀波紋度測量

KLA Candela® 6300系列光學(xué)表面分析儀系統(tǒng)

選項

精密的金剛石劃線
離線軟件
大尺寸軟件許可證

波多野结衣中文无码,一区二区三区中文字幕人妻,日本福利一区二区三区四区,久久er99精品国产一区

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