X射線金屬鍍層測厚儀XRF-2020系列膜厚儀

微先鋒韓國MicroP XRF-2020系列/XRF-2000系列

產(chǎn)品功能：

1. 采用

X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層

多鍍層及合金鍍層,不限基材,基材不可與鍍層相同。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾

   包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數(shù)：可測5層。

3. 測量

產(chǎn)品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

4. 測量時間：通常15秒。

5. H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。

6  L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

產(chǎn)品參數(shù)：

X射線光管 鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏（1毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

探測器 高分辨氣體正比計數(shù)探測器

準直器 單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂制其他規(guī)格)

全自樣品臺，自動雷射對焦

XRF-2020功能應(yīng)用：

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架半導(dǎo)體連接器等電鍍層厚度。

測量

鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料

鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.03-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

X射線鍍層測厚儀韓國微先鋒XRF-2020

電鍍測厚儀微先鋒XRF-2020規(guī)格

XRF-2020L:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg

X射線金屬鍍層測厚儀XRF-2020系列膜厚儀

檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器等產(chǎn)品電鍍層厚度

可測量鍍金,鍍銀.鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等

XRF-2020測厚儀

韓國Micropioneer先鋒膜厚儀