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ContourX-100 三維光學(xué)輪廓儀
- 公司名稱 瑞科和利（北京）科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào) ContourX-100
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/12/27 11:00:07
- 訪問(wèn)次數(shù) 107
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三維光學(xué)輪廓儀 是布魯克的 TriboIndenter 平臺(tái)的全面改進(jìn)，其測(cè)量和分析過(guò)程的各個(gè)方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統(tǒng)常見限制的更新技術(shù)。因此，該系統(tǒng)具有更多的可用測(cè)量模式 ，并在廣泛的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中提供高精度測(cè)量。
快速、可重復(fù)的三維計(jì)量
與放大倍率無(wú)關(guān)的業(yè)界Z軸分辨率
大尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場(chǎng)
高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計(jì)
測(cè)量和分析功能
易于使用的界面，可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果
廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng)，用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測(cè)量分析
滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告
計(jì)量功能
ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計(jì)量、表征和成像領(lǐng)域超過(guò)四十年的專有光學(xué)創(chuàng)。該系統(tǒng)結(jié)合三維白光干涉和二維成像技術(shù)在單次測(cè)量中實(shí)現(xiàn)多種分析。ContourX-100對(duì)于反射率從0.05％到99％的各種表面都非常易于測(cè)量。
三維光學(xué)輪廓儀 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭
高分辨率、彩色光學(xué)顯微鏡
低噪聲 2D 電容式傳感器
計(jì)量級(jí)花崗巖框架確保測(cè)試穩(wěn)定性
集成主動(dòng)減振系統(tǒng)
Performech III 控制器
減振底座的抗噪能力提高了 50 倍
多層環(huán)境隔離罩
俯視樣品臺(tái)成像
使用 XPM II 超高速納米壓痕進(jìn)行性能成像
動(dòng)態(tài)納米壓痕
帶有可定制面板的模塊化外殼
通用樣品夾具
高精度電動(dòng)/自動(dòng)化平臺(tái)，可測(cè)試面積增加 60%
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