默飛世爾科技的 Talos™   F200X 掃描/透射電子顯微 鏡（S/TEM）提供最快速，納米材料多維定 量表征。由于配備了多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度 和使用便易度，Talos™  F200X 是學術(shù)、政府和工業(yè) 等 領(lǐng)域進行高級研究與分析的理想選擇。

高分辨圖像數(shù)據(jù)質(zhì)量更好

賽默飛世爾科技的 Talos™   F200X S/TEM 融合了高分辨 率 STEM 和 TEM 成像,行業(yè) X 射線能量色散譜（EDS） 信號檢測，以及通過成分面掃實現(xiàn)三維化學表征等功能。利用 智能掃描引擎、基于多個STEM    探測器的四通道合并技術(shù)，以 及微分相位襯度（DPC）成像技術(shù)，賽默飛世爾科技  Velox™    S/ TEM  控制軟件顯著地改善  S/TEM  成像質(zhì)量，可以更好地分析 電磁結(jié)構(gòu)，并實行快速、準確的 EDS 數(shù)據(jù)處理及定量分析。

賽默飛世爾科技的高亮度 X 場發(fā)射電子槍可以在提供高達標準 肖特基場發(fā)射電子槍五倍束流的同時保持較小的會聚角。用戶 可以獲得高信噪比及STEM、EDS   圖像分辨率和更多高 分辨  TEM應(yīng)用。此外，X  場發(fā)射電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使 用壽命長等特點使其具有更高的成像效率。

顯示范圍更廣、獲取圖像速度更快Talos™  快速 D/TEM 成像支持 高分辨率以及原位動態(tài)成像。賽默飛世爾科技的 Ceta 16M™  相 機的視場范圍更大，圖像采集速率可高達每秒 25 幀。同時壓電 樣品臺可以確保高靈敏度，無漂移成像及精確樣品導(dǎo)航。因此    Talos™  在節(jié)約用戶時間的同時可以采集更多樣品數(shù)據(jù)。

賽默飛Talos™  F200X掃描/透射電子顯微鏡加快納米尺度范圍內(nèi)分析解決問題的速度

Talos™  F200X 采用賽默飛世爾科技保護的Super-X™  集

成 EDS 系統(tǒng)，它配備了4 個硅漂移 X 射線探測器 (SDD)，具有  靈敏度，每秒可收集高達 105 幅能譜。通過 Super-X™  與   A-TWIN 物鏡集成，Talos™  F200X 最大限度地提高了 X 射線收 集效率，同時達到給定束流下（即使對低強度 EDS 信號）的理  想輸出計數(shù)率。

主要優(yōu)勢

提供更優(yōu)質(zhì)的圖像：  同時進行多重信號探測的高效率 STEM 成像技術(shù)為高質(zhì)量的圖像提供了更好的圖像對比度

快速獲取化學成分數(shù)據(jù)：快速，精確定量 的 EDS 分析技術(shù)以 揭 示納米級成分細節(jié)

更多應(yīng)用空間：利用專用的各種原位樣品桿進行原位動態(tài)實驗

讓研究更輕松

Talos™   采用用戶友好的數(shù)字界面和人體工學設(shè)計，允許多名科學家訪問圖像和分析工作流程?？焖賵D像采集與簡單易用的操作平臺相結(jié)合，即使是經(jīng)驗不豐富的操作員也可以快速收集結(jié)果。使用全程遙控操作，可以提高使用的便利度并增強環(huán)境穩(wěn)定性。為了保持生產(chǎn)率，Talos™   還配備了新的狀況監(jiān)視器，  以便收集重要的儀器參數(shù)，便于遠程診斷和支持。

賽默飛Talos™  F200X掃描/透射電子顯微鏡特征

• 領(lǐng)域光學性能：恒定功率 A-TWIN 物鏡

• 易用性：快速、簡單的操作切換，可用于多用戶環(huán)境

• 超穩(wěn)定平臺：恒定功率物鏡、壓電樣品臺、可靠的系統(tǒng)外殼和 遙控操作確保最高的穩(wěn)定性

• SmartCam 相機：數(shù)字搜索和查看相機可以提高所有應(yīng)用 的處理能力，并可以在日光下操作。

• 集成的快速探測器：Ceta 16M 像素 CMOS 相機可提 供較大的視場和很高的讀取速度 (25 fps @ 512×512)

• 全程遙控操作：自動光闌系統(tǒng)與 Ceta 相機相結(jié)合，支持 全程遙控操作

• 提高分析能力：Talos™  利用 EDS 三維成像技術(shù)將化學成分分 析能力從二維擴展到三維 。

安裝要求

詳細數(shù)據(jù)，請參考預(yù)裝指南。