SG-A 光焱科技圖像傳感器測(cè)試儀
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號(hào) SG-A
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/3/7 16:33:53
- 訪問次數(shù) 3823
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 | 全光譜的波長范圍 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) |
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動(dòng)態(tài)范圍 | 80dB、100dB或140dB | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 測(cè)量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
特色
*無損光學(xué)檢測(cè)。
*高度準(zhǔn)直梁角 /高準(zhǔn)直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,<3度 (不同型號(hào))
*高均勻光束點(diǎn):≥ 99%。
*光的不穩(wěn)定性≤1%。
*高動(dòng)態(tài)範(fàn)圍測(cè)試能力:80dB~140dB(不同型號(hào))。
*可以測(cè)試CMOS圖像感測(cè)器參數(shù)。 量子效率、光譜回應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動(dòng)態(tài)範(fàn)圍、暗電流/雜訊、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光回應(yīng)不均勻性)、CRA。
*全光譜波長範(fàn)圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
*波長可擴(kuò)展至1700納米以上。
*DUT 封裝:CIS 模組,PCB 板級(jí),CIS 攝像頭,有/無微透鏡。
*SG-A和DUT之間的 “直接 ”或 “握手 ”通信協(xié)定。
*定製的測(cè)試夾具和平臺(tái)(手動(dòng)或自動(dòng),最多6軸)。
*功能完整的分析軟體ARGUS®。
*應(yīng)用:指紋識(shí)別(CIS+鏡頭,CIS+準(zhǔn)直器,TFT陣列感測(cè)器)CIS的微透鏡設(shè)計(jì),晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè),CIS DSP晶片演算法開發(fā),Si TFT感測(cè)器面板,飛行時(shí)間相機(jī)感測(cè)器,接近感測(cè)器(量子效率,靈敏度,線性度,SNR等),d-ToF感測(cè)器,i-ToF感測(cè)器,多光譜感測(cè)器,環(huán)境光感測(cè)器(ALS),指紋顯示(FoD)感測(cè)器。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)
規(guī)格
光焱科技SG-A CMOS圖像感測(cè)器測(cè)試儀的功能很好,因此相關(guān)的規(guī)格和配件也很齊全。 更多細(xì)節(jié)可再瞭解。
以下是主要的能力規(guī)格:
– 全光譜的波長範(fàn)圍:300-1100nm或350-1000nm(PTC)
– 波長範(fàn)圍可以擴(kuò)展到1700 nm或更高
– 單一波長源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定義
– 動(dòng)態(tài)範(fàn)圍:80dB、100dB或140dB
– 測(cè)試夾具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定製
– 平臺(tái):非、手動(dòng)3軸,或6軸(手動(dòng)+自動(dòng))平臺(tái)(可定製)
應(yīng)用範(fàn)圍
光焱科技SG-A CMOS圖像感測(cè)器測(cè)試儀可用於:
*指紋識(shí)別(CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器、TFT-陣列感測(cè)器)
*CIS的微透鏡設(shè)計(jì),晶圓級(jí)光學(xué)檢查
*CIS DSP 晶片的演演算法開發(fā)
*Si TFT 感測(cè)器面板
*飛行時(shí)間相機(jī)感測(cè)器
*近距離感應(yīng)器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。 )
*d-ToF感測(cè)器、i-ToF感測(cè)器
*多光譜感測(cè)器
*環(huán)境光感測(cè)器 (ALS)
*指紋顯示(FoD)感測(cè)器