PT-QEM600 IPCE測(cè)試系統(tǒng)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 菲銳科技（北京）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) PT-QEM600
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/7 13:01:13
- 訪問(wèn)次數(shù) 4721
產(chǎn)品標(biāo)簽
供應(yīng)IPCE測(cè)量系統(tǒng)IPCE測(cè)量系統(tǒng)廠家太陽(yáng)能測(cè)量系統(tǒng)IPCE測(cè)試系統(tǒng)太陽(yáng)能系統(tǒng)
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太陽(yáng)光模擬器、太陽(yáng)能電池和組件的I-V測(cè)量、量子效率QE測(cè)試系統(tǒng)、氙燈光源、科研用全系列光源。
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,綜合 |
|---|
菲銳斯PT-QEM600太陽(yáng)能電池QE/IPCE測(cè)試系統(tǒng)提供一種用于測(cè)量外部量子效率(EQE)和內(nèi)部量子效率(IQE)中的AC斬波模式，這適合于大多數(shù)類型的電池。QEM600可以用選項(xiàng)，允許用戶定制一個(gè)特殊的解決方案，滿足他們的個(gè)人工作需求QE測(cè)量進(jìn)行配置。QEM600允許客戶以測(cè)量外量子效率(EQE)也稱為入射光子到電荷載流子的效率(IPCE)或量子效率(QE)，以及內(nèi)部量子效率(IQE)的太陽(yáng)能電池，檢測(cè)器，或任何其他光子荷轉(zhuǎn)換裝置。標(biāo)準(zhǔn)QEM600報(bào)價(jià)適合斬波AC模式對(duì)于大多數(shù)樣品類型。QEM600使用證明，耐用的航標(biāo)燈組件提供交鑰匙解決方案，包括光源，光模塊，單色儀，校準(zhǔn)器，相關(guān)的電子模塊，軟件和PC在一個(gè)預(yù)先配置，組裝。此外，太陽(yáng)能電池QE/IPCE測(cè)量系統(tǒng)在積分球附件可安裝其允許更精確的漫反射測(cè)量樣品的織構(gòu)化表面的IQE。該系統(tǒng)的*設(shè)計(jì)符合美國(guó)ASTM方法E1021至1006年規(guī)定的要求。附件可用于提供諸如樣品定位，溫度控制，真空吸附，電探測(cè)能力和光偏置裝置。
為客戶配置的其它功能或其他類型樣品的特殊需求，請(qǐng)與銷售工程師討論您的客戶應(yīng)用。
PT-QEM600太陽(yáng)能電池IPCE測(cè)試系統(tǒng)的基本特性：
一整套完整的測(cè)試解決方案，屬交一個(gè)鑰匙工程。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化的全自動(dòng)QE/IPCE測(cè)試工作站，符合美國(guó)材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì)ASTM標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際電工協(xié)會(huì)IEC標(biāo)準(zhǔn)。既可以用于實(shí)驗(yàn)室科學(xué)研究領(lǐng)域，也可以很方便地應(yīng)用于工廠產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域。
交鑰匙測(cè)試系統(tǒng)，自動(dòng)化測(cè)試；
一體化設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)單方便，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量；具備可測(cè)量材料的SPV表面光電壓譜測(cè)試功能；
精確的測(cè)量結(jié)果，符合ASTME1021-06和IEC60904-8國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)；
光源穩(wěn)定性和系統(tǒng)測(cè)試信噪比；
系統(tǒng)測(cè)試重復(fù)性：系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果可重復(fù)性：≤0.15%rms(300–1800nm)；
可以測(cè)試樣品的光譜響應(yīng)、內(nèi)/外量子效率、IPCE、及電流密度等特性；
AC交流調(diào)制光輻射，SR830鎖相放大器采集電信號(hào)；
DC直流模塊國(guó)際的KEITHLEY采集信號(hào)；
樣品測(cè)試用光學(xué)高密暗箱；
測(cè)試光斑面積可調(diào)；面積小于0.01mm2；可測(cè)量納米線太陽(yáng)電池；用戶連續(xù)可調(diào)的單色光光譜帶寬；
可對(duì)測(cè)試樣品加載偏置光及偏置電壓、偏置電流；
NIST溯源標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器,光譜校準(zhǔn)范圍200-1800nm；
積分球測(cè)試模塊，用于測(cè)試反射率、透射率、以及IQE內(nèi)量子效率；
可以計(jì)算AM0,AM1.5D和AM1.5G照射條件下的短路電流；
光譜測(cè)試范圍可以升級(jí)擴(kuò)展至2500nm；
電化學(xué)測(cè)試模塊；
近紅外光譜模塊；
惰性氣體模塊；
系統(tǒng)可測(cè)量雙結(jié)或三結(jié)等多結(jié)太陽(yáng)能電池測(cè)試；
系統(tǒng)可進(jìn)行溫度控制、真空吸附樣品探針測(cè)試臺(tái)；
各種測(cè)試模塊供用戶選擇；
系統(tǒng)可擴(kuò)展制紫外/紅外光譜探測(cè)器輻射定標(biāo)；
系統(tǒng)可擴(kuò)展PL測(cè)試功能；
簡(jiǎn)單友好的操作界面；
IPCE測(cè)試系統(tǒng)適用于科研、開(kāi)發(fā)、以及生產(chǎn)廠商對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的控制。
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