場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM檢測(cè)
- 公司名稱(chēng) 束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/11 13:46:04
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 2833
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MicroCT，顯微CT，微焦點(diǎn)CT，骨骼成像，顯微CT材料學(xué)檢測(cè)，微納顯微CT,X射線(xiàn)斷層掃描，TOC,元素檢測(cè)
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,石油,地礦,建材 |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測(cè)
項(xiàng)目 | 細(xì)則 | 收費(fèi) | 說(shuō)明 |
僅形貌觀察 | 每個(gè)樣品*20min，超出時(shí)間將按照每20min一個(gè)樣計(jì)算；樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅元素分析測(cè)試 | EDS元素分析/分布包括：點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）；線(xiàn)分析；面分析 | / | / |
形貌觀察和元素分析 | SEM每個(gè)樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括； 點(diǎn)分析（限3點(diǎn)）； 線(xiàn)分析；面分析； | / | / |
EBSD | / | / | 制樣收費(fèi)面議 |
STEM | / | / | / |
冷臺(tái)、熱臺(tái)、WetSTEM原位觀察 | 需要設(shè)計(jì)試驗(yàn)方案，價(jià)格面議。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為Pt 5nm | / | / |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測(cè)
蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質(zhì)的成像和優(yōu)質(zhì)的分析能力，可選配備多種探測(cè)器，以滿(mǎn)足顆粒物、納米結(jié)構(gòu)、薄膜樣品等各種不同的應(yīng)用需求。EDS幾何設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)高性能的元素分析，無(wú)論哪種樣品適用范圍廣，且均可獲得準(zhǔn)確且可重復(fù)的分析結(jié)果。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ]1. 靈活的探測(cè)手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴(kuò)展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設(shè)計(jì)-提升光學(xué)性能的同時(shí)，降低靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。
▲樣品直徑達(dá)300mm?！捎^察范圍直徑達(dá)203mm?！蓪?duì)高達(dá)110mm的樣品進(jìn)行觀察和能譜分析?！ㄓ眯徒涌诓季譂M(mǎn)足各種分析用途。
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