XL 80激光干涉儀   

XL 80激光干涉儀

激光系統(tǒng)射出的光波具有三種主要特性：
• 已知準(zhǔn)確波長(zhǎng)，可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)量
• 波長(zhǎng)非常短，可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確或高分辨率測(cè)量
• 所有光波相位相同，可根據(jù)已知的基準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量
 

應(yīng)用：
1. 機(jī)器驗(yàn)證
XL-80激光系統(tǒng)常見的用途是用來(lái)驗(yàn)證運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)。通過(guò)測(cè)量機(jī)器性能，用戶不僅對(duì)加工過(guò)程充滿信心，還可提前發(fā)現(xiàn)加工件中存在的問(wèn)題。 與激光跟蹤系統(tǒng)不同的是，XL-80可直接在機(jī)器上單獨(dú)測(cè)量幾何誤差。這樣一來(lái)，用戶對(duì)測(cè)量結(jié)果更有信心，并且能夠發(fā)現(xiàn)誤差。
機(jī)器精度可通過(guò)以下途徑提高：
• 對(duì)機(jī)器裝配進(jìn)行針對(duì)性改造
• 根據(jù)數(shù)據(jù)應(yīng)用誤差補(bǔ)償重復(fù)運(yùn)行測(cè)試可驗(yàn)證所作的改進(jìn)并展示機(jī)器改進(jìn)后的功能。

2. 誤差補(bǔ)償
誤差補(bǔ)償可通過(guò)減少機(jī)器所示位置和實(shí)際位置之間的誤差來(lái)提升機(jī)器的整體性能。大多數(shù)機(jī)床都會(huì)包含一些用于調(diào)整反向間隙和線性誤差的選項(xiàng)。然而，功能更強(qiáng)大的機(jī)床控制器可提供在刀尖位置應(yīng)用空間補(bǔ)償?shù)倪x項(xiàng)?？臻g補(bǔ)償將考慮所有幾何誤差，包括線性誤差。XL-80可用于將補(bǔ)償值填入到補(bǔ)償表中。 雷尼紹空間補(bǔ)償軟件將激光測(cè)量讀數(shù)轉(zhuǎn)換成補(bǔ)償文件，然后可直接將其輸入到特定的機(jī)床控制器中。

3. 專業(yè)激光觸發(fā)
當(dāng)對(duì)線性測(cè)量采用“自動(dòng)”采集功能時(shí)，系統(tǒng)會(huì)在機(jī)器移至一個(gè)被認(rèn)為穩(wěn)定的位置時(shí)測(cè)量位置誤差。然而，一些應(yīng)用需要激光系統(tǒng)在自定義的時(shí)間或在同步位置采集數(shù)據(jù)。
觸發(fā)方式：
• 使用計(jì)算機(jī)鼠標(biāo)或按鍵手動(dòng)觸發(fā)
• 編碼器同步觸發(fā)
• 基于時(shí)間的觸發(fā)
• 利用繼電器通過(guò)機(jī)器的控制器進(jìn)行觸發(fā)
* 要求使用TB10觸發(fā)器

4. 動(dòng)態(tài)分析
了解系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性，例如加速度、速度、振動(dòng)、停止時(shí)間、共振和減振，對(duì)于許多應(yīng)用都至關(guān)重要。這些特性將影響系統(tǒng)的操作能力，例如位置精度、重復(fù)性、表面光潔度及磨損。標(biāo)準(zhǔn)的XL-80激光干涉儀可以高達(dá)50 kHz的頻率采集動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)。QuickViewXL軟件包簡(jiǎn)單易用，有直觀的界面，能夠記錄、查看和保存動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)。

5. 雙軸
在一些設(shè)備中，機(jī)器的一個(gè)軸由兩個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置和兩個(gè)反饋系統(tǒng)控制（如龍門銑床、車床和大型龍門型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）。在這種情況下，兩個(gè)激光裝置與雙軸軟件結(jié)合使用，能夠自動(dòng)同步采集平行軸數(shù)據(jù)。雙軸測(cè)量軟件為L(zhǎng)aserXL軟件的標(biāo)準(zhǔn)配置。

SPELECNIR是市場(chǎng)上*將近紅外光譜與電化學(xué)測(cè)量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學(xué)和光學(xué)測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺(tái)雙恒電位/恒電流儀。

該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨(dú)立使用。SPELECNIR可以與標(biāo)準(zhǔn)比色皿支架或光譜電化學(xué)測(cè)試池池一起使用，也可以配合DropSens測(cè)試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。

主要特點(diǎn)

• DropView同時(shí)控制光譜與電化學(xué)測(cè)量

• 光譜信號(hào)與電化學(xué)測(cè)量同步采集

• 實(shí)時(shí)采集光譜，無(wú)延遲

• 暗譜與參考譜校正

• 計(jì)數(shù)、吸收率、透射率和反射率測(cè)量和計(jì)算

• 自動(dòng)和手動(dòng)快門控制

• 自由選擇積分時(shí)間

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析

• 可分別提供光譜和電化學(xué)曲線相關(guān)信息

強(qiáng)大的的數(shù)據(jù)采集與結(jié)果處理

• 實(shí)時(shí)控制面板，可在電化學(xué)測(cè)量過(guò)程中隨時(shí)連續(xù)收

集生成的光譜。

• 特定波長(zhǎng)下光譜與電化學(xué)曲線圖：電位吸收?qǐng)D，計(jì)時(shí)

吸收?qǐng)D和微分圖。

• 獨(dú)立收集每個(gè)光譜和電化學(xué)曲線的信息。

• 的EC范圍內(nèi)捕獲的光譜, 獲取與特定EC點(diǎn)相關(guān)

的光譜。

• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。

• 三維繪圖, 錄制實(shí)驗(yàn)影片。

• 所有數(shù)據(jù)均可導(dǎo)出Excel。