一、西安LED光源冷熱沖擊試驗(yàn)箱運(yùn)行控制系統(tǒng)

1、控制器: 采用進(jìn)口LED數(shù)顯（P、I、D S、S、R.）微電腦集成控制器
2、精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
3、制冷系統(tǒng): 進(jìn)口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組，原裝法國“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
4、循環(huán)系統(tǒng): 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī)，多葉式離心風(fēng)輪
5、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間: 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S
6、溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5min（與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，即冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān)）溫度沖擊方法: 垂直兩箱法/垂直三箱法 （兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱）

二、西安LED光源冷熱沖擊試驗(yàn)箱性能指標(biāo)

1、溫度范圍: A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃ C:-65℃～150℃
2、溫度波動(dòng): 高溫室及低溫室均≤±2℃
3、溫度波動(dòng): ≤±0.5℃（恒溫時(shí)）
4、樣品承重: 20KG; 30KG; 50KG; 60KG
5、低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。
6、溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。

三、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

1、三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱全部功能采用計(jì)算機(jī)控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，
2、可以臨時(shí)更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時(shí)間的參數(shù)，使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換，按設(shè)定值自動(dòng)進(jìn)行。
3、冷箱、熱箱獨(dú)立控制，箱門互相獨(dú)立，擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍（一箱三用）。
4、產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。
5、三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱門與循環(huán)風(fēng)機(jī)，提藍(lán)傳動(dòng)等互鎖，保護(hù)操作者的安全，一旦打開箱門，循環(huán)風(fēng)機(jī)和提藍(lán)傳動(dòng)的電源會(huì)被自動(dòng)切斷。
6、在箱頂有標(biāo)準(zhǔn)引線孔管，方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線，檢測電纜等類型引線。

四、應(yīng)用領(lǐng)域

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

五、注意事項(xiàng)

1、三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱電源

（1）電源使用三相五線制，設(shè)備電纜為四芯線，三根相線，一根零線。請注意零線區(qū)分。因設(shè)備部分負(fù)載和控制系統(tǒng)為單相，接錯(cuò)零線將會(huì)導(dǎo)致設(shè)備不工作和損壞。

（2）本設(shè)備接地線有接地線柱，確保設(shè)備良好接地可使設(shè)備安全可靠。零線、地線接錯(cuò)將會(huì)導(dǎo)致設(shè)備非正常工作。

（3）因用戶場地等因素需延長電纜，請確保所用延長線和電源的額定參數(shù)可滿足產(chǎn)品的電源需求。

2、三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱場地

（1）本設(shè)備使用過程中會(huì)產(chǎn)生大量熱量。請將設(shè)備按照在通風(fēng)良好的地方。

（2）請勿靠近易燃材料或易爆環(huán)境中使用本設(shè)備。

（3）請勿在強(qiáng)磁場和強(qiáng)烈振動(dòng)環(huán)境中使用。