smart-1 IV曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試I/V Curve
| 參考價(jià) | ￥ 670000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司
- 品牌
- 型號(hào) smart-1
- 產(chǎn)地 中國(guó)臺(tái)灣
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2018/5/4 10:41:04
- 訪問(wèn)次數(shù) 2665
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儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測(cè)試的服務(wù)商
主要服務(wù)項(xiàng)目：半導(dǎo)體失效分析設(shè)備，元器件失效分析可靠性測(cè)試
 | 非破壞性分析 |
| 小型測(cè)試機(jī) / 半導(dǎo)體I-V特性曲線儀 / 探針臺(tái) / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 / |
| 破壞性分析 |
| 激光開封 / 手動(dòng)開封 / 酸自動(dòng)開封機(jī) / 小型半導(dǎo)體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺(tái) / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 / |
| 化學(xué)處理 |
| 取晶 / 反應(yīng)離子刻蝕機(jī) / 碼點(diǎn)染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 / |
| 聚焦離子束 |
| 微線路修改 / 測(cè)試鍵生長(zhǎng) / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 / |
| 可靠性服務(wù) |
| 預(yù)處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實(shí)驗(yàn)(HAST) / HTRB / 老化實(shí)驗(yàn)(Burn in) / 高壓高濕實(shí)驗(yàn)(SPP) / |
| 靜電測(cè)試(ESD/HBM/MM) |
| CDM / Latch up / HBM / MM / |
| 可焊性測(cè)試 |
| 沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實(shí)驗(yàn)(Whisker) / |
| 研磨/拋光等耗材銷售 |
| Allied / ProbeTips / |
探針臺(tái)probe，開封機(jī)laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動(dòng)曲線量測(cè)儀
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測(cè)往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在*步)，可見curve量測(cè)的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來(lái)越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動(dòng))沒(méi)有辦法滿足時(shí)效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200*的便利性。國(guó)內(nèi)客戶有：上海宜碩、深圳宜智發(fā)、華為、珠海炬力、蘇州瑞薩、蘇州三星、東莞三星、SMIC、天水華天、無(wú)錫安盛、深圳沛頓、華測(cè)檢測(cè)等等
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
主要參數(shù)：
1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。
2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test
1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。
2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test
I/V曲線量測(cè)儀開短路測(cè)試
可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析，并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機(jī)成本及時(shí)間。
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。
4.Windows的操作系統(tǒng)，易學(xué)易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可儲(chǔ)存在電腦中，未來(lái)可重復(fù)被使用，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時(shí)。
5.機(jī)臺(tái)可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。
6.機(jī)臺(tái)本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做Mass Production之Open/Short Test，可謂一機(jī)多用。
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