賦能產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新!第四屆半導(dǎo)體超精密分析技術(shù)及應(yīng)用線上研討會(huì)報(bào)名開啟
立訊精密采購三臺(tái)英飛思X熒光光譜儀設(shè)備用于鍍層分析和RoHS檢測
8月下旬,立訊精密相關(guān)負(fù)責(zé)人,技術(shù)人員來我司考察儀器,送樣品檢測。我司技術(shù)人員詳細(xì)介紹了儀
器的參數(shù),應(yīng)用,解釋了客戶針對(duì)性的各種問題??蛻籼峁┑膸追N樣品檢測分析后,我司儀器給出的各項(xiàng)
數(shù)據(jù)指標(biāo)都準(zhǔn)確合格。立訊精密在和其他廠家對(duì)比儀器各項(xiàng)性能指標(biāo)價(jià)格后,于9月初選擇英飛思的能量色
散X熒光光譜儀--鍍層分析儀和RoHS檢測儀,用于產(chǎn)品的鍍層,鍍液檢測分析,RoHS檢測分析,為產(chǎn)品
質(zhì)量牢牢把關(guān)。
英飛思鍍層測厚儀/膜厚儀
微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器可實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
精確的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。
英飛思RoHS檢測儀
1-一鍵式自動(dòng)測試,使用更簡單,更方便,即使非技術(shù)人員也能快速上手
2-采用美國AmpTek最新型Si-pin/SDD探測器,電致冷技術(shù),體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。
3-采用自主研發(fā)的探測器信號(hào)增強(qiáng)處理系統(tǒng),提高信噪比,達(dá)到實(shí)驗(yàn)室級(jí)別低1ppm檢出限。
4-八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換。最小0.2mm準(zhǔn)直器可以用于樣品微點(diǎn)測試,檢測光斑更小,射線能量更集中。內(nèi)置高清CCD攝像頭,能清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位
5-采用7位濾光片自動(dòng)切換系統(tǒng),不同濾光片可有效提高不同基體中元素的檢測下轄
6-多重防輻射泄露設(shè)計(jì),輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品高級(jí)
7-*一體化散熱設(shè)計(jì),使整機(jī)散熱性能得到極大提高,提高核心部件使用壽命
8-的芯溫控技術(shù),保證X射線源的安全可靠運(yùn)行,降低使用成本
9-可定制化報(bào)告,可以自由設(shè)定元素檢測限,軟件自動(dòng)標(biāo)示超標(biāo)元素(Fail/Pass)
10-多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng),并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全
11-優(yōu)化了Cl,Cr等元素的檢測,大大提高了低含量Cl和Cr元素的測試靈敏度和穩(wěn)定性,為用戶的無鹵分析提供了更精準(zhǔn)的檢測方法
12-可拓展應(yīng)用:鍍層厚度分析,八大重金屬分析,合金成分分析
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